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工業(yè)CT(ICT)指的是計算機斷層成像或工業(yè)計算機斷層成像。盡管有關(guān)層析成像理論的數(shù)學(xué)理論很早就在1917年由J.Radon提出，但僅僅是在計算機出現(xiàn)之后，與輻射學(xué)科相結(jié)合之后，才發(fā)展成為一種新的成像技術(shù)。尤其是在NDT(NDT)和NDE(NDE)這兩個領(lǐng)域，工業(yè)界表現(xiàn)出了自己的獨特性。
所以，工業(yè)CT是國際無損檢測領(lǐng)域中**的無損檢測手段。自20世紀80年代以來，世界主要工業(yè)化國家在航天、航空、航空、軍事、冶金、機械、石油、電力、地質(zhì)、考古學(xué)等多個部門都使用X射線或γ射線ICT技術(shù)，檢測對象有導(dǎo)彈、火箭、火箭、軍用密封組件、核廢料、石油巖芯、計算機芯片、精密鑄件與鍛件、汽車輪胎、陶瓷及復(fù)合材料、海關(guān)藥物、考古化石等。
在我國，也逐漸將ICT技術(shù)應(yīng)用于工業(yè)無損檢測領(lǐng)域。21世紀道ICT更是進一步發(fā)展，已成為一項重要的先進無損傷檢測技術(shù)。
1.無損檢測范圍：主要是對ICT的檢測對象。若能透射鋼的最大厚度，檢測工件的最大回轉(zhuǎn)直徑，檢測工件的最大高度或長度，檢測工件的最大重量等。
2.所用射線源：X射線能量大小、工作電壓、工作電流和聚焦尺寸。
3.ICT掃描方式：采用何種掃描方式，是否具有數(shù)字射線檢測或?qū)崟r成像等功能。
4.掃描探測時間：指掃描一次斷層資料的采集時間。
5.圖像重建時間：指重建圖像所需的時間。
6.分辨率：是關(guān)鍵性能指標，包括：空間分辨率：指從CT圖像識別最小物體的能力。
密度分辨率：是利用圖像的灰度來區(qū)分被檢測材料的基本方法(因為灰度直接反映被檢測物的密度)。密度分辨與空間分辨率的關(guān)系。當輻射劑量一定時，空間分辨率和密度分辨率是兩個相互矛盾的指標。
利用工業(yè)CT能夠?qū)崿F(xiàn)對物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行非接觸、非破壞的檢測，獲得無重疊數(shù)據(jù)和zd圖像，不僅能精確地給出物體內(nèi)部細節(jié)的三維位置信息，還能定量地提供細節(jié)輻射密度數(shù)據(jù)。
伴隨著制造業(yè)的快速發(fā)展，對產(chǎn)品質(zhì)量檢測提出了更高的要求，對關(guān)鍵、復(fù)雜部件甚至內(nèi)部缺陷進行嚴格的檢測和內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸的精確檢測。
超聲、射線等傳統(tǒng)的檢測方法，如超聲、射線等檢測手段已不能滿足要求。因此，在檢測領(lǐng)域發(fā)展了一系列先進的無損檢測技術(shù)，工業(yè)CT技術(shù)就是其中之一。
NDS可分為五大類：超聲檢測UT(UltrasonicTesting)、射線檢測(RadiographicTesting)、磁粉探測MT(MagneticparticleTesting)、滲透探測PT(PenetrantTesting)、渦流探測(EddycurrentTesting)。
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