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x-ray檢測設(shè)備助力中國IC發(fā)展新趨勢

發(fā)布時間：2020-08-02 09:00:00

近年來，國家有關(guān)職能部門對產(chǎn)品質(zhì)量的檢測越來越嚴(yán)格。盡管如此，一些非法企業(yè)仍然選擇冒險以獲取利潤。這導(dǎo)致一些劣質(zhì)甚至假冒產(chǎn)品泛濫市場，并帶動了消費(fèi)者的實(shí)際利益。來了很多傷害。

我們必須承認(rèn)的一件事是，中國目前沒有像英特爾這樣的高端技術(shù)芯片制造商，而且高昂的產(chǎn)品價格成本已導(dǎo)致一些制造商轉(zhuǎn)向供應(yīng)商以達(dá)到不合格產(chǎn)品的水平。出于良好目的，這將導(dǎo)致較低的產(chǎn)品質(zhì)量和較低的價格，這也將對整個市場的正常經(jīng)濟(jì)發(fā)展產(chǎn)生重大影響。

為了能夠有效地檢測產(chǎn)品的優(yōu)缺點(diǎn)，許多測試設(shè)備已經(jīng)在國內(nèi)市場上出現(xiàn)，例如普通的AOI進(jìn)行超聲檢測，然后再進(jìn)行X射線無損檢測。每次開發(fā)測試設(shè)備并進(jìn)行創(chuàng)新時，其最大目的就是能夠檢查產(chǎn)品的質(zhì)量。

實(shí)際上，AOI會檢查產(chǎn)品的外觀，而無法檢查產(chǎn)品的內(nèi)部；盡管超聲測試是一種非破壞性測試，但其缺點(diǎn)是無法更好地保存測試結(jié)果。 X射線無損檢測將完全克服前兩種檢測方法的缺點(diǎn)。不僅可以檢測產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷，而且可以圖像形式保存產(chǎn)品的分析投影。這種檢測方法對于以后的分析和比較起了非常關(guān)鍵的作用。

作為市場上使用最廣泛的產(chǎn)品，可以想象IC芯片質(zhì)量的重要性。對于市面上那些外觀逼真但內(nèi)部結(jié)構(gòu)有缺陷的IC芯片，肉眼顯然是不可能的。為了區(qū)分它們，只有在X射線檢查設(shè)備的準(zhǔn)確，高效的檢查下，這些缺陷才能得到很好的補(bǔ)償，從而保護(hù)IC芯片的質(zhì)量。

日聯(lián)科技和依科視朗聯(lián)合聲明將在中國市場進(jìn)行技術(shù)及市場的深度合作，結(jié)合依科視朗的全自動缺陷自動識別軟件（ADR），出錯率較高的人工判定檢測結(jié)果時代將成為歷史。日聯(lián)科技UNZ225A1S檢測系統(tǒng)已在二維X射線檢測技術(shù)上積累了非常成熟的解決方案，此次集成依科視朗強(qiáng)大的現(xiàn)場驗證“TrueInspect Server”先進(jìn)技術(shù)，作為日聯(lián)科技在線X-ray檢測系統(tǒng)的**應(yīng)用，將進(jìn)一步為客戶提高**的成本效益和穩(wěn)定可靠的檢測結(jié)果。

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